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      J.A.Woollam公司于1987年由Woollam教授等创办。公司是由内布拉斯加州立大学的科研成果为基础衍生而来的专业生产光谱型椭圆偏振测量仪的厂商,公司研发、生产多种不同规格型号的椭偏仪,没有与椭偏仪无关的产品。
     J.A.Woollam公司拥有超过100项的椭偏专利技术,确保公司的技术一直处于领先地位。已有2000多套椭圆仪已被安装到世界各地,广泛应用于各种领域的科研与生产当中。
     专业的应用团队为用户提供一流的技术支持,从硬件到软件,从样品制备到建模分析,我们都会有最佳的建议带给用户。

光谱型椭偏仪
J.A.Woollam的光谱椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构特性的光学测量设备。可测的样品包括大块材料、薄膜以及在平面基底上生长或沉积的多层结构。多层固体、液体、与固体相邻的液体以及与固体接触的气相等离子体的特性等都可以用这一技术来探测。
椭偏仪应用
光谱椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构特性的光学测量设备。可测的样品包括大块材料、薄膜以及在平面基底上生长或沉积的多层结构。多层固体、液体、与固体相邻的液体以及与固体接触的气相等离子体的特性等都可以用这一技术来探测。由于与样品非接触,对样品没有破坏并且
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