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J.A.Woollam的光谱椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构特性的光学测量设备。可测的样品包括大块材料、薄膜以及在平面基底上生长或沉积的多层结构。多层固体、液体、与固体相邻的液体以及与固体接触的气相等离子体的特性等都可以用这一技术来探测。



RC2 光谱椭偏仪
RC2是J.A.Woollam公司的最新的光谱椭偏仪产品。采用双旋转补偿技术,可测量穆勒矩阵的全部16个元。相比M2000vi型椭偏仪,数据的准确性更高,应用面更广。 设备特点: 采用双旋转补偿器
T-solar 光谱型椭偏仪
T-Solar是为光伏行业量身定制的一款光谱椭偏仪,无论是硅电池(绒面)还是薄膜电池,都可以用T-Solar来测量。T-Solar基于M-2000,是M-2000的一个特殊配置版。
VUV-VASE 光谱型椭偏仪
UVV-VASE是一款真空紫外椭偏仪,通常用来测量及研究薄膜的紫外光学特性,如光刻胶等。
IR-VASE Mark II 光谱型椭偏仪
IR-VASE可应用于红外材料光学特性的测量及分析,IR-VASE在半导体上可应用于掺杂浓度的测量。超宽光谱适合各种红外材料,旋转补偿技术保证测试数据的准确性。IR-VASE是红外椭偏仪中的
V-VASE 光谱型椭偏仪
V-VASE是一款经典的自动可变角,单色仪分光的光谱椭偏仪。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析。自动相位延迟技术保证了测量准确性,精湛的工艺保证
Alpha-SE 光谱型椭偏仪
α-SE是一款高性价比的光谱型椭偏仪。简约设计,理想的薄膜分析工具。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配置易用的数据分析软件 易于使用 带有高级选项的按钮式操作 软件 技
M-2000 光谱型椭偏仪
无论是科研还是工业生产,M-2000都可以满足您的需求,多样的配置选项满足不同用户的要求。旋转补偿专利技术保证Delta的准确测量,CCD列阵的使用使全光谱扫描可在几秒钟内完成。
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